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安柏AT40150A多路電壓測試儀多路耐壓檢測儀，采用高性能 ARM9 微處理器控制的全自動實(shí)時(shí)檢測的微型臺式儀器，測量范圍-5.00000V~+5.00000V，準(zhǔn)確度：0.01%，測量速度：105 次/秒@全通道。

?安柏AT4050A多路電壓測試儀耐壓檢測設(shè)備，采用高性能 ARM9 微處理器控制的全自動實(shí)時(shí)檢測的微型臺式儀器，測量范圍-5.00000V~+5.00000V，準(zhǔn)確度：0.01%，測量速度：105 次/秒@全通道。

安柏AT40150多路電壓測試儀耐壓測量儀，采用高性能 ARM9 微處理器控制的全自動實(shí)時(shí)檢測的微型臺式儀器，測量范圍-5.00000V~+5.00000V，準(zhǔn)確度：0.01%（AT40150A），測量速度：105 次/秒@全通道。

安柏AT40100多路電壓測試儀多路耐壓檢測儀，采用高性能 ARM9 微處理器控制的全自動實(shí)時(shí)檢測的微型臺式儀器，測量范圍-5.00000V~+5.00000V，準(zhǔn)確度：0.01%（AT40100A），測量速度：105 次/秒@全通道。

安柏AT4050多路電壓測試儀耐壓檢測設(shè)備，采用高性能 ARM9 微處理器控制的全自動實(shí)時(shí)檢測的微型臺式儀器，測量范圍-5.00000V~+5.00000V，準(zhǔn)確度：0.01%（AT4050A），測量速度：105 次/秒@全通道。

?安柏AT40200多路電壓測試儀耐壓檢測儀，采用高性能 ARM9 微處理器控制的全自動實(shí)時(shí)檢測的微型臺式儀器，測量范圍-5.00000V~+5.00000V，準(zhǔn)確度：0.01%（AT40200A），測量速度：105 次/秒@全通道。

?安柏AT5330多路電池內(nèi)阻測試儀內(nèi)阻檢測儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實(shí)時(shí)檢測的微型臺式儀器。可對30通道電池內(nèi)阻和電壓進(jìn)行掃描測試。儀器可以測試0.001mΩ~3k的電阻,0.0001V~60.000V的直流電壓,電阻30000顯示位數(shù),電壓60000顯示位數(shù)。

安柏AT5220多路電池內(nèi)阻測試儀檢測設(shè)備是全新設(shè)計(jì)的高精度、高穩(wěn)定性的多路電池測試儀，可迅速完成20組電池電壓和內(nèi)阻的分選；采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5寸液晶中英文顯示 , 操作更方便。